Q8.
掃瞄式電子顯微鏡(SEM)要觀察表面光滑及高倍率的試樣，應選擇
鑄造 · 甲級 · 鑄後處理 · Q8
難易度分析
3 / 5
此題目的在於測驗對顯微鏡光學系統參數調整的理解。針對特定表面平整度與高放大倍率的需求，必須在解析度與其他成像性能之間進行技術性選擇，涉及對電磁透鏡聚焦原理及電子訊號擷取效率的專業判斷。
正確答案：②工作距離小
② 工作距離小:工作距離小可縮短電子束與試樣的距離，提升二次電子訊號的收集效率與空間解析度，是觀察光滑表面及進行高倍率放大的標準操作條件。
錯誤選項解析
- ① 工作距離大:工作距離大會增加景深但降低解析度，不適合高倍率觀察。高倍率時電子束聚焦能力會因距離拉長而衰減，導致影像清晰度不足。
- ③ 光圈小:光圈小雖可增加景深，但會減少電子束電流，導致訊號強度不足。對於光滑表面試樣，小光圈反而不利於獲得清晰的高倍率影像。
- ④ 光圈大:光圈大會增加球面像差並降低解析度，同時減少景深。高倍率觀察光滑表面時，大光圈會使影像邊緣模糊，無法滿足精密檢測需求。
Learning Tip
"SEM工作距離是影響解析度與景深的關鍵參數。高倍率觀察應選擇小工作距離以提升解析度；低倍率或粗糙表面則需大工作距離以獲得足夠景深。實務上需依試樣特性與觀察目的調整，常考陷阱為混淆工作距離與光圈對影像品質的獨立影響。"
學員答題分佈
①工作距離大0%
②工作距離小100%
③光圈小0%
④光圈大0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！