Q14.
電晶體特性曲線尋跡器於測量FET 時，則供給其閘極所需信號為
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難易度分析
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本題呈現典型的交叉概念測試結構，將元件控制特性與儀器信號波形進行兩維度組合。命題設計透過四種排列區隔考生對基本原理的精確掌握程度，需具備明確的專業概念對應能力方能快速排除干擾項，屬該領域考試中標準的基礎概念辨析型題目。
正確答案：①階梯波電壓
① 階梯波電壓:FET（場效電晶體）屬於電壓控制元件，其閘極（Gate）需施加階梯波電壓以產生多條不同閘極偏壓下的汲極特性曲線，此為曲線尋跡器的標準測試方法。
錯誤選項解析
- ② 階梯波電流:FET 為電壓控制元件而非電流控制元件，閘極輸入阻抗極高（幾乎不吸取電流），故不需要也不應提供階梯波電流；此為BJT（雙載子電晶體）基極的驅動方式。
- ③ 鋸齒波電壓:鋸齒波電壓通常用於汲極（Drain）的掃描信號，而非閘極；閘極需使用階梯波電壓來設定多個離散的閘源電壓（VGS）準位以繪製完整曲線族。
- ④ 鋸齒波電流:鋸齒波電流同時存在波形與信號型態的雙重錯誤；FET 閘極需電壓信號控制，且需為階梯波而非鋸齒波，此選項完全不符合 FET 的測試原理。
Learning Tip
"FET 與 BJT 的驅動方式差異為常考陷阱：FET 是電壓控制（閘極用階梯波電壓），BJT 是電流控制（基極用階梯波電流）。曲線尋跡器中，閘極/基極使用階梯波產生多條曲線，汲極/集極使用鋸齒波進行電壓掃描，兩者功能不可混淆。"
學員答題分佈
①階梯波電壓0%
②階梯波電流0%
③鋸齒波電壓0%
④鋸齒波電流0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！
