Q106.
下列有關XRF 分析儀的敘述，何者錯誤？
化學─無機物檢驗 · 甲級 · 無機微量分析 · Q106
難易度分析
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題目要求判斷哪項敘述錯誤，需先了解XRF的快速多元素偵測、定量限制、空間解析度與輕元素靈敏度等四個面向，並辨別正確與錯誤敘述。
正確答案：②定量能力較佳
② 定量能力較佳:此敘述錯誤。XRF的定量能力相對較弱，因受基體效應（Matrix Effect）影響顯著，通常需搭配標準品校正，屬於半定量分析技術，其定量精確度不如ICP-OES或ICP-MS等儀器。
錯誤選項解析
- ① 快速並可同時偵測不同能量的X-光能譜:XRF（X射線螢光光譜儀）利用不同元素受激發後產生特定能量的特性X射線，可同時偵測多元素的能譜，具有快速分析之優勢。
- ③ 可得較佳的空間解析度:微區XRF（μ-XRF）搭配聚焦光學系統可達微米級空間解析度，適合進行樣品表面之元素分佈mapping分析。
- ④ 對輕元素的偵測能力差:輕元素（原子序小於11，如C、N、O）產生的螢光X射線能量低，易被空氣或儀器窗口吸收，故XRF對輕元素靈敏度差，通常需搭配真空或氦氣環境改善。
Learning Tip
"本題考XRF分析儀之特性與限制。常考陷阱為混淆「定性」與「定量」能力——XRF擅長快速定性與多元素同時偵測，但定量需依賴標準品校正且受基體效應干擾。另需留意輕元素偵測限制及空間解析度與儀器類型（波長分散型WDXRF vs 能量分散型EDXRF）之關聯。"
學員答題分佈
①快速並可同時偵測不同能量的X-光能譜0%
②定量能力較佳0%
③可得較佳的空間解析度0%
④對輕元素的偵測能力差0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！