Q169.
下列哪些是原子螢光光譜法與X 螢光光譜法的不同處
化學─無機物檢驗 · 甲級 · 無機儀器分析 · Q169
難易度分析
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題目要求答者在四項選項中，選出三項是原子螢光光譜法與 X 螢光光譜法的不同之處。由於是多重選擇，必須同時正確判斷三項真偽，且各項差異屬於技術細節（光源、分光元件、偵測器），需要較深的專業理解。
正確答案 (複選)：②, ③, ④
- ② 光源:原子螢光光譜法(AFS)使用紫外光或可見光光源（如空心陰極燈、雷射），而X螢光光譜法(XRF)使用X射線光源激發樣品，兩者光源能量範圍與激發機制不同。
- ③ 單色器:AFS需使用光柵單色器分離原子螢光波長，而XRF採用晶體分光（波長分散型WDXRF）或直接以能量分散偵測器（EDXRF）進行能譜分析，分光原理與元件結構不同。
- ④ 偵測器:AFS使用光電倍增管(PMT)偵測紫外光/可見光訊號，而XRF使用矽漂移偵測器(SDD)或Si(Li)偵測器量測X射線光子能量，兩者偵測器類型與工作原理不同。
錯誤選項解析
- ① 光致發光:光致發光是原子螢光與X螢光的共同原理，兩者皆屬於吸收光子後產生螢光輻射的光致發光過程，故非兩者差異處。
Learning Tip
"AFS與XRF的核心差異在於激發光源能量不同（紫外光 vs X射線），導致後續的分光元件與偵測器設計完全不同。常考陷阱：兩者皆屬光致發光機制，此為共同點而非差異。實務上AFS主要用於痕量金屬元素分析，XRF則廣泛用於固體樣品多元素同時分析。"
學員答題分佈
①光致發光0%
②光源0%
③單色器0%
④偵測器0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！