Q7.
下列何組16 進制資料用來作RAM 的測試最好？
儀表電子 · 甲級 · 裝配、測試與檢修知識 · Q7
難易度分析
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本題屬於基礎概念測驗，重點在於辨識哪一組資料能產生棋盤格效應以檢測耦合故障與資料線短路。選項設計簡單且無多重陷阱，故難度評估為較低水平。
正確答案：②55、AA
② 55、AA:55 (01010101) 與 AA (10101010) 形成完美的 棋盤格圖案 (Checkerboard Pattern)，每個位元均與相鄰位元相反，能有效檢測 固定型故障 (Stuck-at Fault)、跳變故障 (Transition Fault) 及 耦合故障 (Coupling Fault)，是 RAM 測試的標準測試資料。
錯誤選項解析
- ① 5A、A5:5A (01011010) 與 A5 (10100101) 雖具有位元交替特性，但其位元跳變模式不如 55/AA 規律，無法形成標準的 棋盤格測試圖案 (Checkerboard Pattern)，對相鄰位元耦合故障的檢測效果較差。
- ③ 0F、F0:0F (00001111) 與 F0 (11110000) 僅在 Nibble (4 位元) 邊界 產生位元跳變，無法檢測同一 Nibble 內相鄰位元之間的耦合效應，測試覆蓋率不足。
- ④ 00、FF:00 (00000000) 與 FF (11111111) 為全 0 與全 1 寫入，僅能檢測 固定型故障，無法發現相鄰儲存單元間的 資料線短路 或 耦合干擾，是最基本的測試但覆蓋範圍最不完整。
Learning Tip
"RAM 測試 的核心考點在於理解不同測試圖案的故障檢測能力。棋盤格圖案 (55/AA) 因相鄰位元極性相反，是檢測 耦合故障 與 資料線短路 的最佳選擇。常見陷阱是誤以為全 0/全 1 (00/FF) 已足夠，但其實際只能檢測最簡單的固定型故障。實務上完整的 RAM 測試會依序執行 00/FF → 55/AA → AA/55 等多組圖案以確保涵蓋所有故障模式。"
學員答題分佈
①5A、A50%
②55、AA0%
③0F、F00%
④00、FF0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！