Q148.
結晶型游離二氧化矽之含量可用下列何種儀器分析？
職業衛生管理 · 甲級 · 專業課程 · Q148
難易度分析
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此題為單一選擇題型，主要測驗專業檢測設備與適用對象之基礎對應關係。各選項技術原理與分析類別差異明確，未設計近似概念或細微參數之混淆陷阱。題目提示語直接指向物質結構特徵，作答過程僅需調用單一知識點進行直觀匹配，整體架構屬標準化之基礎概念記憶型考題。
正確答案：④X 光繞射分析儀
④ X 光繞射分析儀:X 光繞射分析儀（XRD）是鑑定結晶型游離二氧化矽的標準方法，依據布拉格繞射定律，不同晶型（石英、方石英、鱗石英）會產生特徵繞射峰，可進行定性與定量分析，符合CNS 相關標準與職業衛生檢測規範。
錯誤選項解析
- ① 原子吸收光譜儀:原子吸收光譜儀（AAS）主要用於金屬元素的定量分析，其原理基於基態原子對特定波長光的吸收，無法辨識結晶型結構，故不適用於游離二氧化矽分析。
- ② 離子層析儀:離子層析儀（IC）用於分析水溶液中的陰陽離子濃度，適用於酸鹼氣體或水溶性離子態物質，無法檢測固態粉塵中的結晶型二氧化矽。
- ③ 氣相層析儀:氣相層析儀（GC）用於分離與定量揮發性有機化合物，需樣品具揮發性與熱穩定性，而結晶型二氧化矽為無機固態礦物，完全不適用此技術。
Learning Tip
"本題核心考點為儀器分析原理與適用對象的對應。常考陷阱：考生易將XRD（結晶結構分析）與XRF（螢光X射線，用於元素分析）混淆。實務上，游離二氧化矽的檢測流程為：空氣採樣（濾膜收集）→ 重量法定量總粉塵 → XRD確認結晶型含量。另需注意非結晶型（無定形）二氧化矽無法以XRD檢出，此為職場暴露評估的重要區別。"
學員答題分佈
①原子吸收光譜儀0%
②離子層析儀0%
③氣相層析儀0%
④X 光繞射分析儀0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！