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儀表電子/零組件知識/Q34
中等
正確率 -
Q34.

標示為28V 的稽納二極體,其內部崩潰機制為下列何者?

儀表電子 · 乙級 · 零組件知識 · Q34

難易度分析

3 / 5

本題要求考生能精確區分不同電壓數值下,二極體內部崩潰機制的物理差異。由於題目設定了特定的電壓條件,考生必須掌握兩種崩潰現象的電壓分界臨界值,才能在相似的專有名詞中排除干擾項。

正確答案:①累增崩潰

① 累增崩潰:28V 稽納二極體的崩潰電壓遠高於 6V,其內部主導機制為累增崩潰(雪崩崩潰),由載子在高電場下撞擊游離產生連鎖倍增效應所致。

錯誤選項解析

  • ② 稽納崩潰:稽納崩潰主要發生於低崩潰電壓(約 5V 以下)的二極體,28V 已遠超出此機制的適用範圍,故非正確答案。
  • ③ 隧道效應:隧道效應是低電壓稽納崩潰的量子物理原理,適用於重摻雜的 PN 接面,與 28V 高電壓條件無關。
  • ④ 熱跑脫效應:熱跑脫效應屬於溫度升高導致漏電流增加的破壞性現象,並非二極體的正常崩潰機制,兩者概念不同。
Learning Tip

"本題核心考點為稽納二極體崩潰機制的電壓分界:低於約 5V 以稽納崩潰(隧道效應)為主,高於約 7V 以累增崩潰(撞擊游離)為主,介於 5~7V 之間則兩者共存。實務上市售「稽納二極體」僅為統稱,高電壓型實際運作原理為雪崩效應,此為檢定常考陷阱。"

學員答題分佈

①累增崩潰0%
②稽納崩潰0%
③隧道效應0%
④熱跑脫效應0%

此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析!

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