Q40.
紅外線光譜儀的應用為
化工 · 乙級 · 工業儀器 · Q40
難易度分析
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本題考查對儀器基本功能定義的掌握程度。選項中包含了不同分析技術（如層析法、元素分析法）的特徵，只要能正確區分結構鑑定與成分分離、定量分析的差異即可選出答案，屬於基礎概念應用題。
正確答案：③用於有機化合物官能基之測定
③ 用於有機化合物官能基之測定:紅外線光譜法利用分子中化學鍵的振動頻率吸收特定波長的紅外光，不同官能基（如 C=O、O-H、N-H）具有特徵吸收峰，是有機化合物結構鉴定的核心工具。
錯誤選項解析
- ① 用於無機化合物之測定:紅外線光譜儀主要針對具有偶極矩變化的分子振動進行檢測，無機化合物通常缺乏明顯的紅外線吸收特徵，故不適用於無機物測定。無機物分析多採用原子吸收光譜或ICP等技術。
- ② 分離樣品中有機物成分:分離樣品成分屬於層析技術（如氣相層析、液相層析）的功能，紅外線光譜儀用於結構鑑定而非分離。IR 光譜儀是對已分離或純物質進行官能基定性分析的儀器。
- ④ 樣品中重金屬含量分析:重金屬含量分析應使用原子吸收光譜儀 (AAS)、感應耦合電漿 (ICP) 或 X射線螢光光譜儀 (XRF)。紅外線光譜無法檢測金屬元素的含量。
Learning Tip
"紅外線光譜 (IR) 的核心考點在於辨識官能基特徵吸收峰，常與質譜 (MS)、核磁共振 (NMR) 的用途混淆。切記：IR 用於官能基鑑定、MS 用於分子量測定、NMR 用於碳氫骨架分析；分離成分則屬層析法範疇。"
學員答題分佈
①用於無機化合物之測定0%
②分離樣品中有機物成分0%
③用於有機化合物官能基之測定0%
④樣品中重金屬含量分析0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！