Q46.
結構上，下列何種量具較容易產生亞培(Abbe)測量誤差
機械加工 · 乙級 · 工件度量 · Q46
難易度分析
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考查量具構造設計是否符合亞培原則。需判斷測量軸線與刻度尺是否位於同一直線，並理解當兩者不共線時，因測量位置偏移或傾斜所導致的誤差放大機制。
正確答案：②卡式內徑分厘卡
② 卡式內徑分厘卡:卡式內徑分厘卡的測量爪與刻度讀數機構不在同一軸線上，測量時若產生傾斜或偏擺，會因力臂效應造成讀數偏差，屬於典型的亞培誤差來源。
錯誤選項解析
- ① 外徑分厘卡:外徑分厘卡的測量軸線與刻度主尺位於同一直線上，符合亞培原則，因此不易產生亞培誤差。
- ③ 直桿式內徑分厘卡:直桿式內徑分厘卡的測量軸線與刻度尺沿同一方向配置，結構設計符合亞培原則，較不易產生此類誤差。
- ④ 深度分厘卡:深度分厘卡的測量基準面與測量桿呈垂直配置，其結構遵循亞培原則，亞培誤差並非其主要誤差來源。
Learning Tip
"亞培誤差是度量衡檢定中的常考重點，關鍵在於判斷測量軸線與刻度基準是否共線。凡兩者偏離的量具（如卡式內徑分厘卡、游標卡尺），在測量時若施力不當或工件擺斜，即會因偏擺角產生誤差放大。實務上應優先選用符合亞培原則的量具，或確保測量時工件與量具保持正確對位。"
學員答題分佈
①外徑分厘卡0%
②卡式內徑分厘卡0%
③直桿式內徑分厘卡0%
④深度分厘卡0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！