Q5.
下列何種儀器被用來定性定量結晶型二氧化矽？
化學性因子作業環境監測 · 乙級 · 樣本分析概要 · Q5
難易度分析
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本題考查對不同分析儀器用途的基礎記憶，需能區分結構分析與元素分析的差異。由於選項間的功能對比明確，無複雜的陷阱或多重推論過程，屬於基本概念的對應考核。
正確答案：①Ｘ-光繞射儀
① Ｘ-光繞射儀:X-光繞射儀（XRD）是定性定量結晶型二氧化矽的標準儀器，利用不同晶型（石英、方石英、鱗石英）具有獨特的X光繞射圖譜進行識別與定量，符合NIEA/NIOSH標準分析方法。
錯誤選項解析
- ② 原子吸收光譜儀:原子吸收光譜儀（AAS）用於測定金屬元素濃度，原理是測量基態原子對特定波長光的吸收，無法辨識二氧化矽的結晶結構，僅能測定總矽含量。
- ③ 紅外線光譜儀:紅外線光譜儀（FTIR）雖可輔助分析二氧化矽，但主要用於官能團鑑定，對於結晶型二氧化矽的定量準確度不如XRD，且易受基質干擾。
- ④ 紫外光光譜儀:紫外光光譜儀（UV）適用於具共軛雙鍵結構的有機化合物分析，二氧化矽為無機氧化物，不具紫外吸收特性，故此儀器完全不適用。
Learning Tip
"結晶型二氧化矽的檢測是作業環境監測的重要考點，需牢記XRD為法定標準方法。常考陷阱為混淆總矽含量（元素分析）與結晶型二氧化矽（結構分析）的差異；另需注意游離二氧化矽與結合型二氧化矽的檢測方法不同，實務上採樣後需經灰化前處理再以XRD分析。"
學員答題分佈
①Ｘ-光繞射儀0%
②原子吸收光譜儀0%
③紅外線光譜儀0%
④紫外光光譜儀0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！