Q64.
化學家用X 射線研究晶體，主要是想瞭解其
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難易度分析
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本題考查對特定分析技術用途的基礎定義掌握程度，選項間的區分度高且無複雜推論，屬於基本概念的直接應用。
正確答案：①結構
① 結構:X射線繞射（XRD）技術利用X射線穿透晶體時產生的繞射圖案，可精確解析晶體內部原子排列的三維結構與晶格參數，這是X射線晶體學的核心應用原理。
錯誤選項解析
- ② 成分:晶體成分分析應使用原子吸收光譜（AAS）、感應耦合電漿質譜（ICP-MS）或X射線螢光光譜（XRF）等元素分析技術，而非X射線繞射。
- ③ 溶解度:溶解度是物質在特定溶劑與溫度條件下的溶解平衡特性，需透過重量分析法或濃度滴定測定，與X射線繞射技術無關。
- ④ 濃度分佈:濃度分佈通常指溶液中溶質的空間分佈情形，需使用層析技術或光譜定量分析，X射線繞射無法提供濃度相關資訊。
Learning Tip
"X射線繞射（XRD）專用於解析晶體結構，常與XRF（元素成分）混淆。切記：XRD看「原子怎麼排」，XRF看「有哪些元素」。在分析化學實務中，兩者常搭配使用以完整表徵材料特性。"
學員答題分佈
①結構0%
②成分0%
③溶解度0%
④濃度分佈0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！