LONGEPASS
Q32.

晒版曝光過度時會造成

網版製版印刷 · 丙級 · 工具儀器使用 · Q32

難易度分析

3 / 5

本題要求區分曝光量過多與不足時對印紋造成的不同影響。由於需要精確辨別對立的現象及其產生的物理機制,且選項中設有容易混淆的干擾項,因此被評定為中等難度。

正確答案:③印紋縮小

③ 印紋縮小:曝光過度時,紫外線產生光散射(Undercut現象),使原本應被底片遮蓋而未硬化的區域也發生交聯反應,導致顯像後網版開孔率降低,印紋因此縮小。

錯誤選項解析

  • ① 版面黏膩:版面黏膩是曝光不足的典型症狀,因感光乳劑未完全硬化,於水洗顯像時膠膜軟化發黏;曝光過度反而使膠膜過度硬化而不會黏膩。
  • ② 印紋放大:印紋放大與曝光過度的實際效果相反;曝光過度會使光散射效應導致非圖紋區的感光膠也硬化,使可印刷的網孔面積縮小而非放大。
  • ④ 印紋缺損:印紋缺損通常由網版髒污、感光膠塗佈不均或底片密著不良所造成,並非曝光過度的直接結果;曝光過度的主要特徵是印紋整體縮小而非局部缺損。
Learning Tip

"晒版曝光控制是網版製版的核心考點,常考曝光過度與曝光不足的症狀判別。切記:曝光過度→光散射→印紋縮小、線條變細;曝光不足→硬化不完全→版面黏膩、鋸齒狀邊緣。實務上應以曝光測試片(21級灰階)定期校正曝光時間,確保感光乳劑達到最佳交聯度。"

學員答題分佈

①版面黏膩0%
②印紋放大0%
③印紋縮小0%
④印紋缺損0%

此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析!

相似類型題目