用一低頻方波來檢測放大電路之相位及頻率特性，其輸出方波若變為中央水平部份下凹，左右兩角同高，則表示該放大電路之低頻響應為何？

儀表電子 · 甲級 · 儀表電學 · Q60

增強

衰減

相位後移

相位前移

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題目測試考生是否能從方波中央部位下凹的形狀辨識低頻下衰的特徵，並區分相位前移、相位後移對波形的影響。

② 衰減:低頻衰減會導致方波中央水平部分下凹（sag/droop），因為耦合電容或旁路電容在低頻時阻抗增大，無法維持穩定的直流位準，使方波頂部產生傾斜現象。此為方波測試法判斷低頻響應的典型特徵。

① 增強:低頻增強時，輸出方波中央水平部分會呈現上凸（overshoot）現象，而非下凹。此情況表示耦合電路對低頻成分過度補償，與題目描述的下凹特徵相反。
③ 相位後移:相位後移（相位滯後）主要影響方波的上升沿與下降沿的對稱性，會使波形產生左右不對稱的畸變，而非中央水平部分的下凹。相位偏移與幅度衰減屬不同的頻率響應特性。
④ 相位前移:相位前移（相位超前）同樣會造成方波邊緣的相位畸變，可能出現振鈴（ringing）或過衝現象，但不會導致中央水平部分下凹。此選項混淆了相位特性與幅度響應的差異。