Q40.
檢驗外分厘卡二砧座測量面之平面度與平行度，宜選用光學
機械加工 · 乙級 · 工件度量 · Q40
難易度分析
2 / 5
此題要求辨識特定光學元件在精密量測中的應用功能，考生需區分各類透鏡與鏡面在光學物理特性上的差異，特別是能否產生用於檢驗平面度的干涉條紋，屬於基本觀念的檢驗。
正確答案：①平鏡
① 平鏡:光學平鏡利用光波干涉原理產生干涉條紋，可精確檢測測量面的平面度與平行度，是量具檢驗的標準光學元件。
錯誤選項解析
- ② 凸透鏡:凸透鏡用於光線會聚成像，不具備產生平面干涉條紋的功能，無法用於平面度檢測。
- ③ 凹透鏡:凹透鏡用於光線發散，同樣無法產生干涉條紋，不適用於平面度量測。
- ④ 球面鏡:球面鏡用於反射成像或聚焦，其曲面特性無法提供平面度檢測所需的基準平面。
Learning Tip
"此題考點為光學平鏡的干涉原理應用。常考陷阱是混淆各類光學元件的功能：平鏡用於平面度檢測，而凸透鏡、凹透鏡、球面鏡均用於成像或聚焦系統。實務上，分厘卡砧座平面度直接影響量測精度，需定期以光學平鏡檢驗，確保符合CNS量具規範。"
學員答題分佈
①平鏡0%
②凸透鏡0%
③凹透鏡0%
④球面鏡0%
此答題分佈是根據學員在 LongePass 模擬考等實際作答紀錄計算而成。與考友分享這道歷屆試題與詳細解析！